中文名:​纳米X-ray显微镜
英文名:Xray Microscope
所属机组:封测组
仪器型号:Xradia 520 Versa
房间:二楼失效分析
负责人:李伟


品牌型号Zeiss, Xradia 520 Versa
主要功能
X射线显微镜通过汇聚的X射线束照射并穿透样品,再利用闪烁体将X射线信号转换为光信
号,并通过不同的镜头进行光学放大,最后在CCD上成像。主要用于材料和结构在微米及纳米尺度的三维成像和研究。
技术指标
空间分辨率: 700nm
电压范围: 30-160kV

最大功率:10kW
X射线源移动范围: 190mm
探测器像素数量:2048×2048

探测器移动范围:290mm
高精度4轴断层扫描马达样品台,360o旋转,承重15kg

可测样品直径:300mm;
辐射安全度: <1μS/hr